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Partector TEM Sampler

Le Partector TEM Sampler de Naneos est un instrument compact qui associe la technologie d'un Naneos Partector à un collecteur électrostatique de particules, afin de déposer directement les nanoparticules sur une grille TEM en vue de leur analyse. Résultat : un instrument de recherche simple permettant de localiser efficacement les sources de nanoparticules sur le lieu de travail, puis de les déposer directement pour un examen au microscope électronique à transmission (TEM). 

Le Partector TEM Sampler détermine automatiquement la
durée d'échantillonnage optimale et arrête le prélèvement lorsque la saturation de la grille TEM est atteinte.  Les données de mesure sont affichées sur un écran graphique et sont également enregistrées sur une carte SD. 

Principales caractéristiques

• Mesure LDSA avec une résolution temporelle de 1 seconde
  
  
• Large plage de concentration, de 1-20 000 µm²/cm³
• Large plage granulométrique, de 10 nm à 10 µm
  
  
• Dépôt électrostatique des particules sur des grilles TEM standard de 3,05 mm
• Débit : 0,45 lpm
  
  
• Enregistrement des données sur une carte µSD (assez d'espace pour de nombreuses années de données !)
  
  
• Alarme de concentration élevée avec seuil réglable